產(chǎn)品特點:

支持SATAⅠ/Ⅱ/Ⅲ的測試；

支持SATA的測試片數(shù)定制化例如100片、150片、200片、400片等；

支持研發(fā)微小型定制化，例如2片、6片等等；支持室溫~+150度的測試；

支持自動化溫控測試；

支持全部采用軟體進行智能化控制測試；

支持測試軟體的定制化，支持箱內(nèi)風速與溫度均衡；

支持PCIE/EMMC/UFS/DRAM/Flash老化的定制化研發(fā)；

支持網(wǎng)絡(luò)化控制，可以異地控制測試并看測試結(jié)果；

支持APP遠程控制測試；

滿足標準：

1. GB/T2423.2-2008(IEC60068-2-2:2007)高溫試驗方法Bb

2. GJB150.3-1986高溫試驗

可以同時滿足SATA2.0,SATA2.5,SATA3.0等產(chǎn)品1000PCS容量的測試要求；可以同時監(jiān)控1000PCS產(chǎn)品的電壓、電流及功率；每層為一個抽屜，可同時測試100PCS的產(chǎn)品，共為10層。