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芯片與封裝材料耐潮性試驗(yàn)介紹

更新時(shí)間:2021-07-09 17:12:38點(diǎn)擊次數(shù):1390次
耐潮性試驗(yàn)就是將試件放置于高溫、高濕的環(huán)境中進(jìn)行測(cè)試,封裝體受潮,會(huì)產(chǎn)生如分層和開(kāi)裂那樣的缺陷。此試驗(yàn)可評(píng)估器件對(duì)高濕應(yīng)力的敏感度,便于器件能在合適的條件下進(jìn)行封裝、貯存和搬運(yùn)。

耐潮性試驗(yàn)就是將試件放置于高溫、高濕的環(huán)境中進(jìn)行測(cè)試,封裝體受潮,會(huì)產(chǎn)生如分層和開(kāi)裂那樣的缺陷。此試驗(yàn)可評(píng)估器件對(duì)高濕應(yīng)力的敏感度,便于器件能在合適的條件下進(jìn)行封裝、貯存和搬運(yùn)。

最普遍的耐潮性試驗(yàn)就是雙85試驗(yàn),即85/85 %RH條件下進(jìn)行的試驗(yàn)。對(duì)于產(chǎn)品耐潮性要求更高點(diǎn),可選擇高加速溫濕度(HAST)試驗(yàn)。經(jīng)過(guò)雙85HAST試驗(yàn)后的PEMS在經(jīng)過(guò)焊接工藝后取下,再進(jìn)行聲學(xué)掃描檢查,分析其引線(xiàn)框架與封裝材料、芯片與封裝材料的分層情況,由此做出此批器件是否通過(guò)耐潮熱試驗(yàn)的判斷。大量的實(shí)踐數(shù)據(jù)證實(shí),通過(guò)上述流程的試驗(yàn)評(píng)估,可以很好地剔除可能進(jìn)人裝備使用的、有潛在可靠性問(wèn)題的塑封器件,很好地起到了保障裝備可靠性的作用。

恒溫恒濕試驗(yàn)箱 

85試驗(yàn)要用到的是恒溫恒濕試驗(yàn)箱,也稱(chēng)恒溫恒濕試驗(yàn)機(jī)、恒溫恒濕實(shí)驗(yàn)箱、可程式濕熱交變?cè)囼?yàn)箱、恒溫機(jī)或恒溫恒濕箱。恒溫恒濕試驗(yàn)箱由制冷系統(tǒng),加熱系統(tǒng),控制系統(tǒng),溫度系統(tǒng)空氣循環(huán)系統(tǒng)和傳感器系統(tǒng)等組成,以此實(shí)現(xiàn)穩(wěn)定的溫濕度條件。

昆山振弘檢測(cè)設(shè)備有限公司是一家擁有環(huán)境可靠性設(shè)備研發(fā)、生產(chǎn)及售后服務(wù)的隊(duì)伍,可根據(jù)客戶(hù)的需求提出相對(duì)應(yīng)的解決方案,主營(yíng)冷熱沖擊試驗(yàn)箱、高低溫試驗(yàn)箱、恒溫恒濕試驗(yàn)箱、老化房、淋雨試驗(yàn)箱、振動(dòng)試驗(yàn)臺(tái)等等,歡迎來(lái)電撥打0512-57791419進(jìn)行咨詢(xún)!

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